你知道LCR數(shù)字電橋的特性有哪些么?下面就讓我們一起來了解一下吧。
1、多參數(shù)混合顯示功能
多參數(shù)同時(shí)顯示可滿足復(fù)雜元件各種分布參數(shù)的全面觀察與評估要求，而不必反復(fù)切換測量參數(shù)。
電感L和其直流電阻DCR可以同時(shí)測量顯示，顯著提高電感測量效率。
2、揭示電感器件的多種特性
使用內(nèi)部/外部直流偏置，結(jié)合各種掃描測試功能，可以分析磁性材料、電感器件的性能。
通過偏置電流疊加測試功能，可以測量高頻電感器件、通訊變壓器，濾波器的小電流疊加性能。使用外部電流疊加裝置，可使偏置電流達(dá)40A以分析高功率、大電流電感器件。
3、陶瓷電容測量
1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征，同時(shí)其容量、損耗施加之交流信號會產(chǎn)生明顯的變化。
儀器具有寬頻測試能力并可提供良好的準(zhǔn)確度，六位分辨率和自動電平控制(ALC)功能等，中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準(zhǔn)確的測試需要。
4、液晶單元的電容特性測量
電容-電壓(C-Vac)特性是評價(jià)液晶材料性能的主要方法，常規(guī)儀器測量液晶單元的C-Vac特性遇到一個問題是大測試電壓不夠。
使用擴(kuò)展測量選件可提供分辨率為1%及高達(dá)20Vms的可編程測試信號電平，使它能在條件下進(jìn)行液晶材料的電容特性測量。
5、半導(dǎo)體材料和元件的測量
進(jìn)行MOS型半導(dǎo)體制造工藝評價(jià)時(shí)，需要氧化層電容和襯底雜質(zhì)密度這些參數(shù)，這些可從C-Vdc特性的測量結(jié)果推導(dǎo)出來。
通過提供的直流源，結(jié)合各種掃描功能，可以方便地完成C-VDC特性的測量。
為了測試晶圓上的半導(dǎo)體器件，需要延伸電纜和探頭，儀器的1m/2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至小。
各種二極管、三極管、MOS管的分布電容也是本儀器的測試內(nèi)容。
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